832微電子器件考試大綱
查看(619) 回復(fù)(0) |
|
sszqm1314
|
發(fā)表于 2014-07-31 16:06
樓主
一、總體要求
主要考察學(xué)生掌握“微電子器件”的基本知識、基本理論的情況,以及用這些基本知識和基本理論分析問題和解決問題的能力。 二、內(nèi)容 1.半導(dǎo)體器件基本方程 1)半導(dǎo)體器件基本方程的物理意義 2)一維形式的半導(dǎo)體器件基本方程 3)基本方程的主要簡化形式 2.PN結(jié) 1)突變結(jié)與線性緩變結(jié)的定義 2)PN結(jié)空間電荷區(qū)的形成 3)耗盡近似與中性近似 4)耗盡區(qū)寬度、內(nèi)建電場與內(nèi)建電勢的計算 5)正向及反向電壓下PN結(jié)中的載流子運(yùn)動情況 6)PN結(jié)的能帶圖 7)PN結(jié)的少子分布圖 8) PN結(jié)的直流伏安特性 9)PN結(jié)反向飽和電流的計算及影響因素 10)薄基區(qū)二極管的特點(diǎn) 11)大注入效應(yīng) 12)PN結(jié)雪崩擊穿的機(jī)理、雪崩擊穿電壓的計算及影響因素、齊納擊穿的機(jī)理及特點(diǎn)、熱擊穿的機(jī)理 13)PN結(jié)勢壘電容與擴(kuò)散電容的定義、計算與特點(diǎn) 14)PN結(jié)的交流小信號參數(shù)與等效電路 15)PN結(jié)的開關(guān)特性與少子存儲效應(yīng) 3.雙極型晶體管 1)雙極型晶體管在四種工作狀態(tài)下的少子分布圖與能帶圖 2)基區(qū)輸運(yùn)系數(shù)與發(fā)射結(jié)注入效率的定義及計算 3)共基極與共發(fā)射極直流電流放大系數(shù)的定義及計算 4)基區(qū)渡越時間的概念及計算 5)緩變基區(qū)晶體管的特點(diǎn) 6)小電流時電流放大系數(shù)的下降 7)發(fā)射區(qū)重?fù)诫s效應(yīng) 8)晶體管的直流電流電壓方程、晶體管的直流輸出特性曲線圖 9)基區(qū)寬度調(diào)變效應(yīng) 10)晶體管各種反向電流的定義與測量 11)晶體管各種擊穿電壓的定義與測量、基區(qū)穿通效應(yīng) 12)方塊電阻的概念及計算 13)晶體管的小信號參數(shù) 14)晶體管的電流放大系數(shù)與頻率的關(guān)系、組成晶體管信號延遲時間的四個主要時間常數(shù)、高頻晶體管特征頻率的定義、計算與測量、影響特征頻率的主要因素 15)高頻晶體管最大功率增益與最高振蕩頻率的定義與計算,影響功率增益的主要因素 4.絕緣柵場效應(yīng)晶體管(MOSFET) 1)MOSFET的類型與基本結(jié)構(gòu) 2)MOSFET的工作原理 3)MOSFET閾電壓的定義、計算與測量、影響閾電壓的各種因素、閾電壓的襯底偏置效應(yīng) 4)MOSFET在非飽和區(qū)的簡化的直流電流電壓方程 5)MOSFET的飽和漏源電壓與飽和漏極電流的定義與計算 6)MOSFET的直流輸出特性曲線圖 7)MOSFET的有效溝道長度調(diào)制效應(yīng) 8)MOSFET的直流參數(shù)及其溫度特性 9)MOSFET的各種擊穿電壓 10)MOSFET的小信號參數(shù) 11)MOSFET跨導(dǎo)的定義與計算、影響跨導(dǎo)的各種因素 12)MOSFET的高頻等效電路及其頻率特性 13)MOSFET的主要寄生參數(shù) 14)MOSFET的最高工作頻率的定義與計算、影響最高工作頻率的主要因素 15)MOSFET的短溝道效應(yīng)以及克服短溝道效應(yīng)的措施 三、題型及分值 填空題(45分) 簡述題(60分) 計算題(45分) |
回復(fù)話題 |
||
上傳/修改頭像 |
|
|